厦门普瑞盛电子科技有限公司专业提供光谱型椭偏仪，可联系厦门总公司，福州办事处 成本低 易于安装 基于视窗结构的软件，很容易操作 先进的光学设计，以确保能发挥出最佳的系统性能 高功率的DUV－VIS光源，能够应用在很宽的波段内 基于阵列设计的探测器系统，以确保快速测量 最多可测量12层薄膜的厚度及折射率 系统配备强大的光学常数数据库 对于每个被测薄膜样品，用户可以利用先进的TFProbe3.3软件功能选择使用NK数据库、也可以进行色散或者有效介质近似模型（EMA）测量分析； 能够应用于测量不同厚度、不同类型的基片 用于实现诸如数字成像、自动mapping台、波长扩展、聚焦光斑等功能的各种可选项以及附件 应用领域 半导体制造（PR，Oxide, Nitride..) · 光学涂层，TiO2, SiO2, Ta2O5... .. · 液晶显示（ITO，PR，Cell gap... ..） · 薄膜晶体管TFT上的层堆叠 · 医疗器械上的涂层 · 用在 MEMS/MOEMS领域的功能性薄膜 · 非晶体，纳米材料和结晶薄膜 · 薄金属膜