| 绝缘子 型号 |
额定 电压 (kV) |
额定机械破 坏负荷 |
高度 (mm) |
绝缘 距离 (mm) |
最小公称 爬电距离 (mm) |
上附件安装尺寸 | 下附件安装尺寸 | 工频湿耐 受电压 (kV) (有效值) |
标准雷电冲 击全波耐受 电压 (kV) (有效值) |
||||||
| 弯曲 (kN) |
扭转 (kN.m) |
孔中心 圆直径 (mm) |
孔径 (mm) |
孔 数 | 孔中心 圆直径 (mm) |
孔径 (mm) |
孔数 | ||||||||
| 1 | FZS-12/4 | 12 | 4 | / | 210 | 130 | 320 | 76 | M12 | 4 | 100 | 14 | 4 | 40 | 90 |
对外FZS-12/4复合支柱绝缘子绝缘表面层存在的氢氧化铝及其它少量填充剂颗粒时，表面粘附取向排列二维状态线性硅氧烷分子，并受离子构成颗粒及线性硅氧烷分子间的交链点影响，这部分面积硅氧烷分子末端及活动链段未浸润污秽物而出现的憎水迁移性，必然要受到很大程度的影响。如果外绝缘表面层填充剂颗粒所占的空间体积，按整个外绝缘材质填充剂颗粒所占的空间体积进行推算，那么，外绝缘表面硅氧烷分子末端及活动链段浸润污秽物而出现憎水迁移性能，受严重影响的只占外绝缘表面层空间体积4/10的氢氧化铝及少量其它填充剂颗粒的圆顶部分，剩下部分对硅氧烷分子末端及活动链段的憎水迁移性能，将不受太大影响。
