(c)电容器绝缘电阻（IR)的测量值与电容量成反比，也就是说，IR是电容量的函数，因此，工业 应用中产品IR的最小标准是由电阻（R)和容量（C) , (RXC)，所决定的，如下表所示。EIA标 准要求产品在25°C时RXC超过1000欧姆-法拉(通常表示成1000兆欧-微法)，在125°C时超过100 欧姆-法拉（仅为下表中数值的10%)。
最小IR值与电容量的关系 |
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电容量 |
最小IR (GQ) |
最小 RxC (QF) |
|
25 C |
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0.1pF~0.01uF |
100 |
1000 |
|
0.015 |
66.67 |
|
1 |
0.022 |
45.45 |
|
|
0.033 |
30.3 |
|
|
0.047 |
21.28 |
|
|
0.068 |
14.71 |
|
|
0.1 |
10 |
|
|
0.15 |
6.67 |
|
|
0.22 |
4.55 |
|
|
0.33 |
3.03 |
|
|
0.47 |
2.13 |
|
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0.68 |
1.47 |
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|
1 |
1 |
|
r |
通常，电介质具有很高的电阻值，测量时往往用10的高次方倍欧姆表示：
皮法表示。单层电容器为例，电极面 积1.0X1.0"，介质层厚度0.56〃，介电常数2500，
C = 2500 (1.0) (1.0) /4.452 (0.56) = 10027 pF 如果采用公制体系，换算因子f = 11.31，尺寸单位改为cm，
C = 2500 (2.54) (2.54) /11.31 (0.1422) = 10028 pF 正如前面讨论的电容量与几何尺寸关系，增大电极面积和减小介质层厚度均可获得更大的电容量。然而， 对于单层电容器来说，无休止地增大电极面积或减小介质层厚度是不切实际的。因此，平行列阵迭片电联系欧阳：15217057671 0755-2 9120592 QQ：2355274968 可获得免费寄样服务，随时欢迎您的来 电
容器的概念被提出，用以制造具有更大比体积电容的完整器件，如下图所示。
