产品介绍：、、詹HPA美国惠普精密LCR测试仪 美国惠普HPa精密LCR测试仪是用于元件和材料测量的价廉物美的仪器.它们通过提供精确、高吞吐量的测试方法来改变元件的质量.hz到mhz宽的测频范围和优良的测试信号,使HP a的测试元件时符合最通行的测试标准如iec/mil标准(国际电工委员会或美国军用标准),且工作在模拟所使用的工作条件下.无论在研究开发、生产、质量保证中还是进货检验,HP a能满足全部lcr测量要求. 技术指标 (全面的技术指标请参阅技术资料) 被测参数z|-θ,|y|-θ,r-x,g-b;c-d,q,esr, g,rp;l-d,q,esr,g,rp;偏差和%偏差 测量电路模式:串联和并联 量程转换:自动和手动 触发:内部、外部、手动和总线(HP-ib) 延迟时间:~.s,以ms步进 测量终端:四端对 测试电缆长度: HPa:标准:和m;带选件时:、、和m 积分时间:短、中等和长 取平均:~,可程控 测试信号 HP a:hz~mhz±.%,个可选择频率 测试信号方式 标准:分别在开路或短路的测量端,而不是在被测件上对选定的 电压或电流编程 恒定:维持被测件上选定的电压或电流,而与器件阻抗和变化无关.