产品名称:介电常数介质耗损测试仪
产品型号:GDAT-A
显示方式:液晶显示
主要用途:介电常数介质耗损测试仪 用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
介电常数介质耗损测试仪 技术特性:
1.Q 值测量范围 2 ~ 1023 ,
2.量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,
3.自动换档或手动换档
固有误差 ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),
≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
工作误差 ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ),
≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
4.电感测量范围 4.5nH ~ 140mH
5.电容直接测量范围 1 ~ 200pF
6.主电容调节范围 18 ~ 220pF
7.主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %
8.信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz
9.频率分段 ( 虚拟 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz
10.频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字
介电常数介质耗损测试仪 满足标准:
1.BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套,可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数(损耗角正切值)。
2.BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品,它采用了数显微测量装置,因而读数方便,数据精确。
3.测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
4.平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
5.BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器,通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化,测得绝缘材料的损耗角正切值。
介电常数介质耗损测试仪 技术特性:
1.平板电容器: 极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围:≥15mm
2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.测微杆分辨率:0.001mm
5. 电感情况:
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
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