电镀层膜厚仪

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电镀层膜厚仪图1

电镀层膜厚仪

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X射线镀层测量仪的应用:
*可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。 
*可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。 
*薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外,适用于无铅焊锡的应用。

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电镀层膜厚仪可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。电镀层膜厚仪是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计,此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理,符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。电镀层膜厚仪可测元素范围:
氯(CL) – 铀(U)
可测量厚度范围:
原子序22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
X-射线管:油冷,超微细对焦
高压:0-50KV(程控)
电脑系统:IBM相容,17”显示器
电镀层膜厚仪只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,电镀层膜厚仪更有镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.

X射线镀层测量仪的优点 
    > 采用国际上最先进的、稳定性最好的射线源,体积小,使用寿命长,易维护。 
    > 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单,便于维护。 
    > 快速多点校正法技术保证了系统的长期精度。 
    > 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。 
    > 操作站:提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太网平台,使用最新的JAVA 技术。 
    > 采用双放大技术和独特大电离室,提升测量范围及精度。

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