凯达-表面粗糙度校准样块升级为光学玻璃基体

自2011年7月以后我公司（北京凯达科仪科技有限公司）生产的表面粗糙度仪NDT110标配的校准样板将升级为光学玻璃基体样板，也叫光学玻璃多刻线表面粗糙度校准样块。

由于过去使用的表面粗糙度校准样块是金属样板：模拟工艺制作，误差较大；因材质较软、硬度低、较易划伤，表面状态变化大，从而导致使用寿命短，客户反映校准数次以后表面有许多划痕，用这样的表面粗糙度校准样板去校准后的仪器肯定是不准确的。我们的表面粗糙度仪NDT110仪器测值是很准的，用表面粗糙度金属样板校准体现不出机器的高精度性能，所以即便是增加成本也要对客户负责，表面粗糙度金属样板不再生产，所有表面粗糙度仪全部给标配高端光学玻璃基体校准样块，也就是光学玻璃多刻线表面粗糙度校准样块。

表面粗糙度仪评定依据：

取样长度lr 是评定表面粗糙度所规定一段基准线长度。取样长度应根据零件实际表面的形成情况及纹理特征，选取能反映表面粗糙度特征的那一段长度，量取取样长度时应根据实际表面轮廓的总的走向进行。规定和选择取样长度是为了限制和减弱表面波纹度和形状误差对表面粗糙度的测量结果的影响。

评定长度 ln 是评定轮廓所必须的一段长度，它可包括一个或几个取样长度。由于零件表面各部分的表面粗糙度不一定很均匀，在一个取样长度上往往不能合理地反映某一表面粗糙度特征，故需在表面上取几个取样长度来评定表面粗糙度。评定长度ln一般包含5个取样长度lr。

粗糙度仪NDT120生产厂家--北京凯达科仪竭诚为您服务。

粗糙度测量仪各项参数都是什么意思

Ra——粗糙度的算术平均偏差

Ra是普遍公认的，zui常用的粗糙度的国际参数。它是轮廓偏离平均线的算术平均，并且是在一个取样长度lr内定义的。

Rz——粗糙度zui大峰一谷高度

Rz(JIS) ——微观不平度十点平均高度

R3y——粗糙度峰一谷高度

R3z——平均峰一谷高度

Rv——zui大的谷值

Rp——zui大的峰值

Rt/Ry/RMax——轮廓zui大的高度

Rc——轮廓要素的粗糙度平均高度

Rda——粗糙度算术平均倾斜slop

Rdq ——粗糙度均方根倾斜

Rku——粗糙度峰度一概率密度函数

Rlo——粗糙度被测的轮廓长度

Rmr——粗糙度材料比曲线

Rpc——粗糙度峰计数

RSm——粗糙度轮廓要素的平均宽度

Rvo——粗糙度测定体积的油保持力

Rs——粗糙度局部峰的平均间距

Rq ——均方根粗糙度

RHSC——粗糙度高点计数