半导体材料IV性能分析仪表

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半导体材料IV性能分析仪表图1

半导体材料IV性能分析仪表

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半导体材料IV性能分析仪表认准生产厂家武汉普赛斯仪表,详询一八一四零六六三四七六

源表有一个简单的定义,就是五表合一(电流源、电压源、电流表、电压表、电子负载),也就是源输出+测量一体化,不同品牌及不同型号的源表都符合这个要求,只是差别在于输出范围、测量精度、速度、通道数不同。

从操作功能上说,源表一般都具备恒流输出、恒压输出、电流扫描、电压扫描功能,通过基本功能的设置、组合,源表可以构建复杂的测量测试功能。
源表也可搭配其它仪器设备(开关系统、皮安表或者拉伸设备、温度、磁场控制设备)组成应用更广泛的测试系统(例如:霍尔效应测试系统)。

S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表,集电压、电流输入输出及测量等多种功能,最大输出电压达300V,最小测试电流达100pA,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:

以下是源表的典型应用领域:
纳米材料与器件
– 石墨烯
– 碳纳米管
– 纳米线
– 低功耗纳米结构

• 半导体结构
– 晶圆
– 薄膜

• 有机材料与器件
– 电子墨水
– 印刷电子技术

• 能量效率与照明
– LED/AMOLED
– 光伏/太阳电池
– 电池

• 分立器件与无源组件
– 双引线: 电阻器、二极管、齐纳二极管、LED、传感器

– 三引线: 小信号双极节型晶体管(BJT)、场效应晶体管 (FET),等等

• 材料特性分析
–电阻率
–霍尔效应

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