主要技术参数:
◆波长范围: 330~820nm 波长精度:± 2 nm
◆重复性:1 nm
◆量程范围:吸光度0-1.999A 投射比0-100T
主要特点:
◆ 单片机控制程序,全息平面光栅分光;
◆ 数显直读实际测量值T、A、C任意切换;
◆ 对数放大器集成在同一模块内并完全密封;
◆ 特别适合测试波长在440 nm以下元素测量。
主要技术参数:
◆波长范围: 330~820nm 波长精度:± 2 nm
◆重复性:1 nm
◆量程范围:吸光度0-1.999A 投射比0-100T
主要特点:
◆ 单片机控制程序,全息平面光栅分光;
◆ 数显直读实际测量值T、A、C任意切换;
◆ 对数放大器集成在同一模块内并完全密封;
◆ 特别适合测试波长在440 nm以下元素测量。