太阳能组件缺陷测试仪（以下简称EL全测试仪）用于晶体硅的缺陷检测，可与客户的产线配套，实现自动上下料，自动测试，可人工对缺陷进行标记，保存在本地或远端数据库中，PC控制软件可通过以太网接口实现与客户系统对接，传输测试结果和报警信息，并可依据客户需求定制功能。
三、el缺陷测试仪组成部件介绍
1、成像系统
成像系统采用采用进口的SONY EXview HAD CCD，有140万、600万可供用户选择，并支持双相机模式。
优秀的成像质量，SONY EXview HAD CCD，成像质量优良，并带有半导体制冷，最低可达-20°C，排除热噪声的影响，使图像质量进一步提升，一体化设计，接口简单，便于维护，CCD相机采用一体化设计，USB接口供电和数据传输，维护简单。
2、运动控制单元
运动控制单元负责整个EL全自动测试仪的流程控制和单个功能模块的手动功能调试。
运动控制单元采集传感器的状态来控制设备的工作流程，同时通过传感器获知各个单元的工作状态，当某个工作单元出现故障时，运动控制单元能够立刻停止当前的操作并保持状态，并通过串口与PC机交互发送和***命令和上传报警信息。
3、计算机控制系统
（1）计算机配置专业工业控制电脑，稳定性好，中文WindowsXP操作系统。
（2）专用缺陷检测（EL）图像采集处理软件采用专业操作界面，简单明了，
中/英文操作环境，支持手动标记缺陷位置，不同的缺陷具有不同的标记符
号，方便识别，标记结果可与图片一同保存。
（3）数据库管理测试结果，便于检索和查找，并可与客户数据库接口，上传
测试结果。
（4）提供以太网接口，可同客户生产管理系统接口，上传测试图片、设备工
作状态和报警信息。
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四、el缺陷测试仪技术参数
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型号 |
EL140S/D-M |
EL600S/D-M |
EL830S/D-M |
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有效测试面积 |
1200mm X 2100mm |
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相机类型 |
冷却型CCD |
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相机像素 |
140万 |
600万 |
830万 |
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分辨率 |
1360×1024（单） |
3032*2016（单） |
3358*2536（单） |
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测试组件类型 |
单晶、多晶组件 |
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冷却到达温度 |
致冷至室温下 20 °C |
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可编程电源输出电压 |
0~80V |
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可编程电源输出电流 |
0~9.5A |
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电源参数 |
单相220V 10A 最大加载电压80V，最大加载电流 10A |
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测量温度范围 |
0～50℃（分辨率0.1℃ ），红外线测温，直接测量电池片温度 |
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曝光时间 |
0—60秒可调 |
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压缩空气 |
0.8MP |
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使用时间 |
层压前、层压后皆可 |
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可检测缺陷类似 |
检测太阳能电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象 |
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五、联系人:王丹丹
手机:15671696592
电话:027-59722666-8012
QQ:1316003860
阿里旺旺:sunic99
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