PCT高压加速寿命试验机|PCT试验箱|PCT老化箱试验一般称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验，最主要是将待测品置于严苛之温度、饱和湿度(100%R.H.)[饱和水蒸气]及压力环境下测试，测试代测品耐高湿能力，针对印刷线路板(PCB&FPC)，用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验..等试验目的，如果待测品是半导体的话，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路..等相关问题。

PCT高压加速寿命试验箱结构：试验箱由一个压力容器组成，压力容器包括一个能产生100%（润湿）环境的水加热器，待测品经过PCT试验机所出现的不同失效可能是大量水气凝结渗透所造成的。

瑞凯公司经长期验证与对比，被测产品置于PCT高压加速寿命试验机内的121℃/85%R.H/1kg/cm2压力条件下1小时，相当于置于标准温湿度箱的双85条件下250小时，大大缩短了产品验证失效时间，加快试样的试验过程。

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