集成电路高温动态老化系统

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集成电路高温动态老化系统图1

集成电路高温动态老化系统

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2014-12-23 09:1110询价
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集成电路高温动态老化系统

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符合标准:GJB548(等同MIL-STD-883)、GJB 597(等同MIL-M-38510
适用范围:
适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和SOC电路、微处理器、存储器等微电子电路进行高温动态老化试验。
工作特性:
一板一区工作方式,最多可同时进行16种规格、批次的器件进行筛选试验,适应多品种、小批量。

超温报警装置,确保温度条件安全施加。
可检测各组电源工作情况及试验箱温度并描绘其与时间相关的曲线。
软件全编辑信号产生方式,可满足包括存储器在内的多种集成电路器件的动态老化要求。
集成的用户软件包基于WINDOWS平台开发,功能完备并有良好的可扩展性。
 主从式RS485全双工高速串行通讯接口,远距离通讯能力强,数据传输安全可靠。
 试验容量和系统分区可根据实际情况另行配置。
 试验箱可选择两个小型试验箱,每个试验箱装8块老化板,可同时进行两个温度条件的试验。
 可提供专用调式台,具备独立的DUT试运行接口和维修接口,方便试验前或试验中对DUT和老化板进行试验状态检查。

电子电路进行高温动态老化试验。

 技术性能:

 

ELEA-V

ELEH-V

系统分区

16区(标准)

试验容量

208×16(以DIP14计)

/

试验温度

最高150℃

数字信号路数

每板64

每板8

数字信号

每路可独立编辑信号的数据、地址、控制、三态特性;信号最高频率:2MHz;最小编程分辨率100ns,最小编程步长100ns;编程深度256k;信号幅度程控范围:2.0V18.0V;最大寻址深度:64G;数字信号可采用直接输入、字符输入、程序输入三种方法编程;

模拟信号

多路多种类模拟信号发生单元及驱动电路,最高频率可达1MHz;最大驱动电流:1A;信号幅度Vpp20V;直流偏移量:01/2Vpp

试验状态监测

64路信号示波监测接口;宽范围数字、模拟信号频率自动测试、记录;二级电源电压监测;

二级电源电流、信号峰值监测(可选)

通讯速率

500K

二级电源

可程控VCCVMUXVEE

输出能力:2V18V/10A

具备灌电流能力;

2组正电源:VCC1+2V~+36V)、VCC2+2V~+36V);

2组负电源:VEE1-2V~-36V)、VEE2-2V~-36V);电流为最大10A

具有过流、过压及过热保护功能;

电源要求

输入:AC380V,50Hz,三相(220V单相可选);

整机功率:8kW以下

整机功率:12kW以下

  

500kg

  外形尺寸    (宽××深)

1313mm×1950mm×1350mm

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