1、HJRD32导波雷达物位计产品概述：
HJRD32导波雷达物位计是采用微波技术来检测料位的高科技产品，该料位仪利用微波具有穿透性好，对恶劣环境及被测物料适应性强等特点，采用世界上先进的大规模集成电路，利用雷达原理、数字信号处理技术和快速傅里叶变换（FFT）技术。采用连续式乍动测量，能测量液体、固体（块状、粉状）料位，具有测距远、精度高等特点。
HJRD32导波雷达物位计具有低维护，高性能、高精度、高可靠性，使用寿命长等优点。在与电容，重锤等接触式仪表相比较，具有无可比拟的优越性。微波信号的传输不受大气的影响，所以它可以满足工艺过程中挥发性气体、高温、高压、蒸汽、真空及高粉尘等恶劣环境的要求。该产品适用于高温、高压、真空、蒸汽、高粉尘及挥发性气体等恶劣环境。可对不同料位进行连续测量。该仪器主要技术指标达到或优于国内外同类产品,且安装调试简便，可以单台使用，也可组网使用，可广泛应用于冶金、建材、能源、石化、水利、粮食等行业。
HJRD32导波雷达物位计是采用微波技术来检测料位的高科技产品，该料位仪利用微波具有穿透性好，对恶劣环境及被测物料适应性强等特点，采用世界上先进的大规模集成电路，利用雷达原理、数字信号处理技术和快速傅里叶变换（FFT）技术。采用连续式乍动测量，能测量液体、固体（块状、粉状）料位，具有测距远、精度高等特点。
HJRD32导波雷达物位计具有低维护，高性能、高精度、高可靠性，使用寿命长等优点。在与电容，重锤等接触式仪表相比较，具有无可比拟的优越性。微波信号的传输不受大气的影响，所以它可以满足工艺过程中挥发性气体、高温、高压、蒸汽、真空及高粉尘等恶劣环境的要求。该产品适用于高温、高压、真空、蒸汽、高粉尘及挥发性气体等恶劣环境。可对不同料位进行连续测量。该仪器主要技术指标达到或优于国内外同类产品,且安装调试简便，可以单台使用，也可组网使用，可广泛应用于冶金、建材、能源、石化、水利、粮食等行业。
2、HJRD32导波雷达物位计技术参数:
应 用： 液体
测量范围：6米
过程连接：螺纹、法兰
过程温度：-40-250℃
过程压力：-0.1~2MPa
精 度：±3mm
频率范围: 100MHZ-1.8GHZ
防爆等级：Exib IIC T6 Gb
防护等级：IP67
信号输出：4—20mA/HART（两线）
应 用： 液体
测量范围：6米
过程连接：螺纹、法兰
过程温度：-40-250℃
过程压力：-0.1~2MPa
精 度：±3mm
频率范围: 100MHZ-1.8GHZ
防爆等级：Exib IIC T6 Gb
防护等级：IP67
信号输出：4—20mA/HART（两线）
3、HJRD32导波雷达物位计使用说明：
测量原理
HJRD32导波雷达物位计是基于时间行程原理的测量仪表，雷达波以光速运行，运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。探头发出高频脉冲并沿缆绳传播，当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的***器***，并将距离信号转化为物位信号。
测量原理
HJRD32导波雷达物位计是基于时间行程原理的测量仪表，雷达波以光速运行，运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。探头发出高频脉冲并沿缆绳传播，当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的***器***，并将距离信号转化为物位信号。
输入
反射的脉冲信号沿缆绳传导至仪表电子线路部分，微处理器对此信号进行处理，识别
出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成，距离物料表
面的距离 D 与脉冲的时间行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 为光速
因空罐的距离 E 已知，则物位 L 为： L=E-D
输出
通过输入空罐高度 E（= 零点），满罐高度 F（= 满量程）及一些应用参数来设定，应
用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于 4－20mA输出。
反射的脉冲信号沿缆绳传导至仪表电子线路部分，微处理器对此信号进行处理，识别
出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成，距离物料表
面的距离 D 与脉冲的时间行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 为光速
因空罐的距离 E 已知，则物位 L 为： L=E-D
输出
通过输入空罐高度 E（= 零点），满罐高度 F（= 满量程）及一些应用参数来设定，应
用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于 4－20mA输出。
测量范围
F---- 测量范围
E---- 空罐距离
B---- 顶部盲区
K---- 探头到罐壁的最小距离
顶部盲区是指物料最高料面与测量参考点之间的最小距离。
底部盲区是指缆绳最底部附近无法精确测量的一段距离。
顶部盲区和底部盲区之间是有效测量距离。
F---- 测量范围
E---- 空罐距离
B---- 顶部盲区
K---- 探头到罐壁的最小距离
顶部盲区是指物料最高料面与测量参考点之间的最小距离。
底部盲区是指缆绳最底部附近无法精确测量的一段距离。
顶部盲区和底部盲区之间是有效测量距离。
