我公司是博曼仪器技术力量大陆代理商，专业销售：镀层膜厚测试仪,电镀测厚仪,膜厚仪,金属测厚仪,X射线膜厚测试仪,无损膜厚测试仪,镀膜膜厚测试仪,金镍膜厚测试仪,铜厚测量仪,X射线元素分析仪,线路板铜厚测量仪,合金分析仪,产品RoHS检测仪.

X光镀层膜厚测试仪在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度膜厚测试仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层.

博曼膜厚测试仪:详述
　　1.元素范围：铝13到铀92。
　　2.x射线激发能量：50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管
　　3.探测器：硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率
　　测量的分析层和元素：5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素
　　4.过滤器/准直器：4个初级滤波器与4个电动准直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
　　5.聚焦：多固定聚焦与激光系统
　　数字脉冲处理：4096 多通道数字分析器与自动信号处理，包括X射线时间修正和防X射线积累　　
　　6.电脑：英特尔酷睿i5 3470处理器(3.2 ghz),8 gb DDR3内存,微软Windows 7 专业64位等效
　　7.镜头：1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
　　8.电源：150 w、100 ~ 240伏,频率范围47赫兹到63赫兹　　
　　9.工作环境：50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,无冷凝水
　　10.重量：32公斤
　　11.内部尺寸：高:140毫米(5.5“),宽:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)
　　12.外形尺寸：高:450毫米(18英寸),宽:450毫米(18),深:600毫米(24)