美国原装博曼镀层膜厚测试仪应用领域于分析电子部品电镀层的厚度 ，各类五金电镀件的镀层厚度管控分析，各镀层的成分比例分析等。美国原装博曼膜厚测试仪用于高分辨硅-PIN-***器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层等 ，应用于端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用，高分辨率探测器硅PIN检测器250 ev，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。
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博曼镀层膜厚测试仪:详述
　　元素范围：铝13到铀92。
　　x射线激发能量：50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管
　　探测器：硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率
　　测量的分析层和元素：5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素
　　过滤器/准直器：4个初级滤波器与4个电动准直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
　　聚焦：多固定聚焦与激光系统
　　数字脉冲处理：4096 多通道数字分析器与自动信号处理，包括X射线时间修正和防X射线积累　　
　　电脑：英特尔酷睿i5 3470处理器(3.2 ghz),8 gb DDR3内存,微软Windows 7 专业64位等效
　　镜头：1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
　　电源：150 w、100 ~ 240伏,频率范围47赫兹到63赫兹　　
　　工作环境：50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,无冷凝水
　　重量：32公斤
　　内部尺寸：高:140毫米(5.5“),宽:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)
　　外形尺寸：高:450毫米(18英寸),宽:450毫米(18),深:600毫米(24)