博曼膜厚测试仪主要用于：元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，美国Bowman膜厚测试仪此仪器特别适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业．需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.美国Bowman膜厚测试仪可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 。
博曼膜厚测试仪主要检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费。欢迎前来洽谈！

美国原装博曼镀层膜厚测试仪应用领域于分析电子部品电镀层的厚度 ，各类五金电镀件的镀层厚度管控分析，各镀层的成分比例分析等。美国原装博曼膜厚测试仪用于高分辨硅-PIN-***器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层等 ，应用于端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用，高分辨率探测器硅PIN检测器250 ev，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。