专业型分析天平（梅特勒-托利多）

型号：XS205DU

仪器资料：

XS分析天平

采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果

全自动校准技术（FACT）-温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性

变量程专利设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求

革命性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果

易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量

触摸屏技术（Touchscreen），方便天平称量菜单和参数设置

可移动的显示控制终端，方便天平使用

完全可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁

内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备

优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求

具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序

e-LoaderII软件，实现更便捷的天平软件更新

技术规格

量程双量程

可读性0.01/0.1mg

最大称量值81/220g

最大称量值重复性(s)0.1mg

10g重复性(s)0.02mg

线性±0.2mg

1/2最大称量1）四角误差0.3mg

灵敏度漂移0.0004%

灵敏度温度漂移2）0.00015%/℃

灵敏度稳定性3）0.0002%/a

典型称量时间4）6s

接口更新速率23/s

防风罩有效高度(mm)235

秤盘尺寸(mm)78×73

天平外形尺寸(W×D×H)(mm)263×453×322

1）按照OIML76标准2）温度范围10…30℃3）灵敏度漂洗/年（天平首次使用后），激活FACT全自动校准技术4）包括样品处理时间设置