X射线荧光分析测厚仪

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X射线荧光分析测厚仪图1

X射线荧光分析测厚仪

¥488000.00/台
2015-07-14 13:02210询价
参数
  • 德国宏德品牌
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产品详情
Compact 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪
产品特性:X射线荧光分析测厚仪,X射线荧光分析测厚仪
产品简介:Compact5/5PINX射线荧光分析测厚仪 德国CompactecoX-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值
详细介绍:
Compact 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪
    德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成份分析,电镀液成份分析,中文简体、繁体、英文操作系统。
    Compact 5/5PIN :轻巧的设计,半开放式测试箱,可容纳大件的PCB产品,功能强大,可配合激光自动对焦,全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。Compact 5 PIN更配备了半导体电子冷却检测器,令分辨率数倍提高,可测量非常薄的镀层,满足于半导体电子工业的应用。
安全性能:通过德国PTB安全验证,符合德国最高安全法规标准。
可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围:
22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
准直器:0.1mm  0.3mm  0.1mm×0.3mm 。
可选四个组合:0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm
50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um
特别订造
Compact eco只配0.3mm或0.5mm 。
自动测量功能:编程测量,自定测量
修正测量功能:底材修正,已知样品修正
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您节省购买标准片的成本。完全超越其他品牌的FP软件。
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液。
定性定量分析:光谱表示,光谱比较,可定性分析20多种金属元素;并可合金成份分析,可定量分析成分含量。
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。
统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图,能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。
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