厂家：Micro Pioneer
快速无损分素多种元素
0.1ppm - 100wt%
无需样品加工
固体、液体、粉、薄膜、涂层不规则形状，颗粒
自动激光对焦系统
友好的用户界面，简单的使用软件
成本低，强大的售后服务团队
多用途的应用系统
完全符合RoHS, WEEE, ELV优化应用
贵金属分析应用(金、银、铂金其他珠宝等。)
薄膜或复杂的多层镀层厚度测量的应用
其他的客户关注的元素分析应用
XRF-2000R软件每个功能都有独立的窗户。在测量的同时,会提供测量部位图像和定性分析的统计。测量数据的发送到Microsoft Excel和其他办公软件。
通过点击想要在镜头监控，点和拍摄功能的位置可以适合的位置自动测量
XRF - 2000R可以处理多种类型的统计数据 ， 包括均值报告卢比图， 直方图等提供样本和分析数据 ， 并确定与应用法规遵从现实时间。
与控制系统的阶段也支持各种接口结果值（Excel，HTML和 数据库格式）
技术数据
样品室尺寸：W610mm D670mm H490mm, Weight 75Kg (net)
可测量尺寸：W550mm D550mm H30mm
X射线管：铑（银，钼）靶，1 - 50KV，1.0mA电流。 微聚焦管
过滤器系统：5个自动切换的初级过滤系统
准直器系统：从0.1毫米到3.0mm多达6个自动切换准直器 客户选择准直器大小（特殊应用的可选）
X射线检测器：电子佩尔蒂埃冷却硅半导体（PIN二极管）检测器
无液态氮气，检测分辨率 149eV FWHM在5.9Kev
视频系统：彩色CCD相机倍率约，20倍变焦取决于显示器大小或100倍变焦（可选）准直仪圆电子十字线
分析样品：固体，液体和粉末
检测范围： 从Al（13）到U（92）1ppm的- 100wt％（真空可选）
辐射安全：完全的保护，故障安全系统就自动关机门传感器快门传感器，温度传感器，设计的X射线安全
主电源：110/220V交流电源50/60Hz
频谱处理：数字脉冲处理。自动峰身份证，各种强度的方法-
毛重，净重，数字滤波，背景去除
死区时间修正，密度校正，频谱自动缩放
控制系统 ：桌面电脑或笔记本电脑与Windows 2000/XP/Vista环境
RoHS指令WEEE指令ELV指令优化的应用
FP法：无样品定性资料分析30项目的筹备工作
校准方法：用标准物质标定定量分析
镀层厚度测量中的应用多达6层
数据输出：的MS - Excel或HTML格式的用户或数据库创造性自定义报告
下面是一些关于贵金属分析和符合样本的结果分析PVC
Ele. Given
Value
Measured
Value
Ele. Given
Value
Measured Value
Pt 100 % 99.99 % Pb 400 ppm 406 ppm
Pt 97 % 97.02 % Cd 100 ppm 102 ppm
Au 100 % 99.99 % Hg 200 ppm 191 ppm
Au 76.3 % 76.18 % Cd 400 ppm 415 ppm
Au 51.8 % 51.67 % Br 500 ppm 520 ppm
测量条件：
测量时间：100
每个样品测量10次
认证测试的标准是由
湿化学分析和ICP - AES，MS。
珠宝 聚氯乙烯标准
我们提供的元素分析或厚度决心，今天就联络我们解决您的质量控制问题。
