X射线测厚仪

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X射线测厚仪图1

X射线测厚仪

¥1.00/台
2015-07-14 13:02210询价
参数
  • 韩国微先锋品牌
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产品参数
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所在地:上海 嘉定
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产品详情
XRF-2000L型X射线测厚仪

机箱尺寸 : 610 W x 670 D x 490 H 
可测量样品大小 : Infinity x 30 H 
XYZ轴移动范围 : 200 W x 150 D x 30 H 
最大承重 : 3 KG

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X射线测厚仪(全新原装进口)
XRF2000能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值,同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。
 
可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U) 原子序 22 – 92 。
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
电脑系统:IBM相容,17”显示器
 
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
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