博曼（BOWMAN）膜厚测试仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg;微米的结构上进行测量。在经济上远远优于多元毛细透镜的BOWMAN专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。具有强大功能的X-射线带WinFTM? V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。有需要的有友请来电咨询希望我们能成为长期的合作伙伴
BOWMAN(博曼)膜厚测试仪，是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。至于需要测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单，博曼(BOWMAN)膜厚测试仪，极适合对一些较小的样板进行测量，尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等，操作员只需将测试面朝下，不论大小的样品可直接放进测量室内，不用调距离，只需对准位置，便可立即测量，这不单可以令测量更快速，还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。BOWMAN膜厚测试仪，应用于各种大小不同的五金的测量（如：小螺丝、手表、眼镜、端子），大面积的样品（如：线路板），亦可测量药水含量（只需要将药水放进别外选购的测量杯便可以进行测量，这样便可以随时随地的监察电镀槽的药水状况如何，有效率地控制电镀生产，测贵金属成分可达到重复性约0.1%。BOWMAN膜厚测试仪，测量技术领先同行15年，在同测量领域独领风蚤，成为膜厚仪之王，精准的数据，高端先进的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。
