美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪主要特点
★搭载样品尺寸的兼容性，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样
品
★具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量
★彩色CCD摄像头，通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避
免直接接触或破坏被测物。
★卤素灯照明
半导体美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪 应用领域：
1、分析电子部品电镀层的厚度
2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
3、各镀层的成分比例分析。
美国原装博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪应用领域于分析电子部品电镀层的厚度 ，各类五金电镀件的镀层厚度管控分析，各镀层的成分比例分析等。美国原装博曼膜厚仪用于高分辨硅-PIN-***器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层等 ，应用于端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板，卫浴，等行业，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用，高分辨率探测器硅PIN检测器250 ev，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限
