X射线质量控系统

X射线质量控系统  产品编号：SY00479

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 X射线质量控系统适用于评价各种X 线机，包括：CT机，拍片机，***机，脉冲***，便携X-线机等。

   可一次曝光测量数据包括kVp、PPV、剂量、剂量率、曝光时间、HVL、总滤过。

 X射线质量控系统随机提供免费数据储存及分析软件，可定制用户报告。

X射线质量控系统具有外置双通道探测器接口，可同时附加第二通道剂量探测器。

 数据传输应用直接有线连接，高速数据传输技术。可真正做到0.1ms探测技术。

可实时显示剂量及kVp波形，方便分析。波形图最小分辨时间为0.1毫秒。

 X射线质量控系统的量程及精度：

千伏：40-155 kV /±2%

剂量：100nGy-9999mGy / ±5%

剂量率：0.1µGy/s-120mGy/s / ±5% 或±0.02µGy/s

曝光时间：0.2ms-999.9s

快速半值层：1.3-10mmAl / ±10%或0.2mm 

总滤过：1.5-30 mm Al / ±10% 或 ±0.3mm (60-120kV.HF/DC)

乳腺机量程及精度

千伏：20-49 kV / ±1.5% 或 0.7 kV

剂量：0.2µGy-9999mGy

剂量率：0.4µGy/s-700mGy/s

曝光时间：0.2ms-999.9s

快速半值层：0.2-1.2 mm Al根据射线质量/ ±5%

总滤过：1.5-30 mm Al / ±10% 或 ±0.3mm (60-120kV.HF/DC)

CT机部分的量程及精度：

   测量后，分析软件可自动出具报告CTDI值

X射线质量控系统  产品编号：SY00479

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