涂层测厚仪CMI243 覆层测厚

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涂层测厚仪CMI243 覆层测厚图1

涂层测厚仪CMI243 覆层测厚

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2015-06-13 11:05200询价
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涂层测厚仪 CMI243

   手持式涂层测厚仪CMI233测量黑色金属底材上的金属镀层厚度,用于紧固件、螺栓、汽车部件、齿轮、管件等表面镀层。

技术规格:

CMI243配置包括:

CMI243探针状况

  CMI243的ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量铁质底材上几乎所有金属覆层,例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。

 最小凸面半径  最小凹面半径  工作高度 最小测量面积直径  最小底材厚度 

 1.2mm

 3.5mm

 100mm

2.5mm

 0.3mm(12mils)

操作范围

 铁上镀层 镀层厚度范围    探头
Zn   0-38μm(0-1.5mil)  ECP-M
Ni  0-75μm(0-3.0mil  ECP-M
Cd  0-38μm(0-1.5mil)  ECP-M
Cr  0-38μm(0-1.5mil)  ECP-M
Cu  0-10μm(0-0.4mil)  ECP-M
非磁性/Fe  0-1270μm(0-50mil)  SMP-1
 

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