光学元件外观缺陷检测设备

光学元件外观缺陷检测仪,利用光学方法，采用权值成像数据分析原理，用来检测光学元件的表面外观缺陷问题。测量时，将待测产品置于光学镜头下方，逐个采集每个产品表面的图像，并对图像进行连续的数字化处理分析，然后与预存的“标准”进行比较分析进而作出缺陷结论。

 强大的自动学习功能：
编程简单快捷，同时强大的自动学习功能，使各种规格、类型的器件都可以通过在器件轮廓处画框学习，电脑主板的编程时间为1.5~2小时，能很好的适应生产线的快速变化。
 极高的易用性：
中英文界面可选，并配备学习向导，操作简单；另外只需要器件的XY坐标和电路板的出料单（BOM）或者贴片机导出文件就可以自动学习。

  光学元件外观缺陷检测仪
判别方法：权值成像数据差异分析、彩色成像比对原理

检测内容：元件有无、偏斜、划痕、缺块、脏污、印子、污染、缺件、偏移、歪斜、错件、破损、刮伤、灰尘、长度、宽度、角度、弧度等缺陷。