AND-001薄膜测厚仪
关键词:薄膜测厚仪 薄膜厚度仪 薄膜厚度计
主要用途及特点:
本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)、读数直观,使用方便。执行GB/T6672-2001标准。
技术参数:
测量范围:0-1㎜
分度值:0.001㎜
上测头曲率半径:15~50㎜
测头对试样施加负荷:0.1~0.5N
详情致电 济南艾德诺仪器 15553141286
AND-001薄膜测厚仪
关键词:薄膜测厚仪 薄膜厚度仪 薄膜厚度计
主要用途及特点:
本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)、读数直观,使用方便。执行GB/T6672-2001标准。
技术参数:
测量范围:0-1㎜
分度值:0.001㎜
上测头曲率半径:15~50㎜
测头对试样施加负荷:0.1~0.5N
详情致电 济南艾德诺仪器 15553141286
河北省石家庄市网友 12-08 04:26 用安卓手机在Safari上访问了本页
美国 华盛顿州西雅图市亚马逊(Amazon)公司数据中心网友 11-28 19:55 用苹果电脑在Safari上访问了本页
上海市网友 10-02 23:55 用Win10电脑在谷歌浏览器上访问了本页