X荧光光谱仪EDX4500

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X荧光光谱仪EDX4500图1

X荧光光谱仪EDX4500

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2015-07-12 22:5510询价
参数
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产品参数
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产品详情
产品名称:X荧光光谱仪EDX4500
产品型号:EDX4500

性能参数

产品型号:EDX 4500
产品名称:X荧光光谱仪 
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同) 
同时分析元素:一次性可测几十种元素 
分析精度:0.05% (含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性) 
测量时间:60秒-200秒 
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV 
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃ 
环境湿度:35%-70%
外形尺寸:660mm×510mm×350mm 
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg

性能特点

高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平 
最新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比 
天瑞仪器专利产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上 
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好 
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围 
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元 
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐 
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头 
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

标准配置

高效超薄窗X光管 
SDD硅漂移探测器 
数字多道技术
信噪比增强器 SNE
钢铁行业测试专用配件 
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
内置高清晰摄像头 
自动切换型准直器和滤光片 
自动稳谱装置 
三重安全保护模式 
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回归程序 
整体钢架结构,力度可靠的保证 
90mm×70mm的液晶屏 
真空泵

应用领域

钢铁检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素等)
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