产品型号：EDX3600K
生产厂商：天瑞仪器
X荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术为基础，结合国外相关最新的技术发展成果，研制出具有自主知识产权的EDX 3600K型X荧光光谱仪。
EDX 3600K X荧光光谱仪最大的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔，产品通过了江苏省计量科学研究院的检测，并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定，技术达到国际先进水平。
软件优势：
采用公司最新的能谱EDXRF软件，先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，操作简易，对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，应用面更加广泛。
仪器配置
检测器：SDD、25mm2、0.5mil、144±5eV
X射线源：50kV、1mA
准直器：固定准直器：Ф6mm
滤光片：六组合电动切换
样品腔：下照式，Ф85mm×42mm
测试台：360°电动旋转式
指示和警告：绿色电源指示灯，辐射警告灯
保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成
真空系统：真空度＜10Pa
样品放置：独特的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动
数字多道技术：计数率＞50kcps
技术参数
型号：EDX3600K
外型尺寸：669mm×540mm×874mm
样品腔体积：Ф40.5mm×39.5mmm
分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量
检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素
含量范围：1ppm～99.99%
检测时间：10-100秒
检测对象：标准粉未压片
探测器：超大超薄的SDD探测器
探测器分辨率：144&±5eV
激发源：50KV/1000uA-铑、钨靶X光管及高压电源
准直器和滤光片：直径6.0准直器，6种滤光片组合自动切换
自旋装置：可调速的自旋装置
检出限：对样品中的大多数元素来说，最低检出限达5～500 ppm
抽真空系统：超真空系统 ，10秒可到10Pa
数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：-20℃～+50℃
外形尺寸及重量：90KG
应用领域
专为粉未冶炼行业研发的一款高端设备，主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。
