镀层无损分析
XRF测厚仪--Thick 880
优势和特点
*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*有助于识别镀层成分的创新型功能
*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室
*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的精确结果
*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
*用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享
*有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用
先进的技术
*独特的 Peltier 电制冷进口检测器
*数字脉冲处理 (DPP) 技术
*基本参数 (FP) 无标样分析方法
*高性能、多元素分析
功能强大、易于使用的元素分析软件
无标和半无标分析
基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法
多层厚度及成分
不限元素、不限数量的标样
利用自动化操作实现多个激发条件
可应用于
*合金分析
*镀层厚度分析
*电镀液金属离子分析
*磁性介质和半导体元素分析
*土壤污染元素分析
*过滤器上的薄膜元素分析
*塑料中的有毒元素分析
