集成电路测试仪

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集成电路测试仪图1

集成电路测试仪

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2013-06-15 13:0470询价
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集成电路测试仪郑州哪家的质量最好?售后怎么样?公司地址、电话? 1.工作原理: ICT33c+集成电路测试仪是以器件预期响应法为指导思想,以单片机智能化为结构的多功能测试仪器。它以MCS51单片机为核心,配合大规模软件和外围扩展系统来全面模拟被测器件的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则:在数字集成电路众多参数中,逻辑功能是最重要,最根本,最能说明问题的参数。 2.系统主要构成: (1) CPU:MCS51系列产品89C52;主频:11.059M。 (2) 程序存储器:128K EPROM。 (3) RAM缓冲区:128K静态RAM。 (4) 显示器:8位液晶显示器。 (5) 操作键盘:20位轻触式按键键盘。 (6) 输出:七只LED+八位液晶显示+声音提示。 (7) 机箱:全塑结构机箱。 3.主要参数: (1) 电源电压:AC220V±15%,50HZ。 (2) 整机功耗:15VA。 (3) 测试电压:3.3V,5.0V,9.0,15V。 (4) 编程电压:12.5V,21V。 (5) 最大测试脚数:DIP封装40脚;SOP封装20脚(须另购适配器)。 (6) 型号输入位数:3——6位。 (7) 适用温度:0——40℃。 (8) 测试规范:输入短路测试;输出短路测试;100%功能测试。 (9) 输出高电平VOH:大于2.8V(VT=5.0V)。 (10) 输出低电平VOL:小于0.7V(VT=5.0V)。 (11) 输入高电平VIH:大于4.5V(VT=5.0V)。 (12) 输入低电平VIL:小于0.2V(VT=5.0V)。 4.功能综述 (1) 器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判别其逻辑功能好坏。 (2) 器件型号识别:当不知被测器件的型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。 (3) 器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。 (4) 器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致,引脚排列一致的器件型号。 (5) 内部RAM缓冲区修改:仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。 (6) 微机通讯:仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。 (7) ROM器件读入:仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。 (8) ROM器件写入:仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。 5.适用范围 ICT33C+具有以下主要用途: (1) 维修各类电子产品,判断其集成电路故障。 (2) 破译被抹去型号集成电路的真实型号。 (3) 烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。 (4) 开发各类智能电子产品,调试程序。 (5) 检验新购器件的质量。 郑州市惠美仪器仪表有限公司 联系:朱经理13017693918 联系电话:0371-66227105 QQ:625132122 地址:郑州市西大街南大街交叉口(管城区委向南300米) 官网:www.91-17.com
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